文物檢測(cè)X熒光光譜儀EDX8000L 利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中 Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba 等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中國(guó)古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)，為了更好的利用 X 熒光分析儀器的無損測(cè)量特性，我公司根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。EDX8000L 型儀器在測(cè)試陶瓷的同時(shí)亦可以測(cè)試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn 等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe 等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到一機(jī)多用，是古文物檢測(cè)的科學(xué)檢測(cè)儀器。中國(guó)歷史博物館、中國(guó)收藏家協(xié)會(huì)等古文物收藏部門都是其用戶。

文物檢測(cè)X熒光光譜儀型號(hào)：EDX8000L

一.技術(shù)指標(biāo)：

1.1 分析元素范圍：Na-U

1.2 測(cè)量精度：0.05%（含量大于 96%的樣品）

1.3 高壓：5kV-50kV

1.4 管流：50μA-1000μA

1.5 能量分辨率：145±5eV

1.6 測(cè)量時(shí)間：60s-300s

1.7 計(jì)數(shù)率：1300-10000cps

二.工作環(huán)境要求：

2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2.2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%第 3 頁 共 3 頁

2.3 工作電源：交流 220±5V

2.4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

詳細(xì)配置信息：

一、硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件：(1) X 光管 (2) SDD 電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器(3) 放大電路 (4) 高壓系統(tǒng)(5) 高清晰攝像頭 (6) 真空泵(7) 三維自由超大樣品腔：（600×600×1000mm3)

二、軟件及其他：X 熒光光譜儀成分分析軟件 V3.02.1 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)計(jì)算機(jī)（筆記本電腦）、打印機(jī)（彩色噴墨打印機(jī)）2.2 資料：儀器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。2.3 標(biāo)準(zhǔn)附件(1) 準(zhǔn)直孔：包括Ф3.0mm、Ф6.0mm、Ф8.0mm 各一個(gè)，共 3 個(gè)；